Chaos V-Ray 3 0 for SketchUp (коммерческое обновление), С версии V-Ray 3.0 для SketchUp до V-Ray Next Workstation, UPGVRSK30-VRSKNWS-R

Программное обеспечение V-Ray for SketchUp предназначено для быстрого и качественного рендеринга любого материала – от дизайнерских моделей до самых подробных 3D-сцен. Решение использует CPU, GPU и гибридный рендеринг и включает интеллектуальный интерфейс с поддержкой мониторов 4K. Отслеживать историю рендеринга можно через кадровый буфер; также инструмент обеспечивает рендеринг фотореалистичных помещений и интерьеров с мощным и быстрым глобальным освещением, имитацию дневного света, неба, различных текстур, дымки и т. д.

Новое в V-Ray Next  for SketchUp:

• Новые и улучшенные инструменты управления активами позволяют искать, выбирать и просматривать ресурсы из одного места.
• V-Ray Next для SketchUp добавляет новые и улучшенные инструменты, которые помогут управлять сценой, настраивать стили окна просмотра и импортировать сцены V-Ray из других 3D-приложений. 
• Новые интуитивно понятные настройки камеры облегчают рендеринг  Обновленный макет элементов управления камерой позволяет одновременно управлять быстрыми и расширенными параметрами. 
• Теперь в V-Ray Next для SketchUp стандартный материал V-Ray совместим с металлическими отражениями PBR, Новые опции «Автоматическая экспозиция» и «Баланс белого».
• Adaptive Dome Light может автоматически увеличить скорость рендеринга до 7 раз быстрее, в зависимости от сцены. ADL исключительно быстр при работе с интерьерами и устраняет необходимость в добавлении подсветки портала в окна и проемы.
• Более быстрый рендеринг.
• С новым NVIDIA AI Denoiser можно мгновенно удалять шум во время рендеринга.
• Новый простой и мощный инструмент выбора цвета.
• Рендеринг VR-готового контента для популярных гарнитур виртуальной реальности с помощью типов VR-камер в режиме Stereo.
• Точный предварительный просмотр материалов V-Ray в окне просмотра SketchUp.
• 650+ отсканированных материалов. Импорт и рендеринг напрямую в V-Ray.
• Быстрое добавление деталей поверхности без дополнительного моделирования с оптимизированным смещением V-Ray.